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Dynamic annealing versus thermal annealing effects on the formation of hydrogen-induced defects in silicon 期刊论文  OAI收割
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2010, 卷号: 97, 期号: 19, 页码: 194101-194101
Di, ZF; Huang, MQ; Wang, YQ; Nastasi, M
收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2012/03/24