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机构
中国科学院大学 [2]
采集方式
iSwitch采集 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2016 [1]
2015 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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Anomalous electrical properties induced by hot-electron-injection in 130-nm partially depleted soi nmosfets fabricated on modified wafer
期刊论文
iSwitch采集
Ieee transactions on nuclear science, 2016, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 2731-2737
作者:
Dai, Lihua
;
Bi, Dawei
;
Ning, Bingxu
;
Hu, Zhiyuan
;
Song, Lei
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提交时间:2019/05/09
Buried oxide
Interface trap
Silicon ion implantation
Soi nmosfets
Total dose radiation
Oxidation precursor dependence of atomic layer deposited al2o3 films in a-si:h(i)/al2o3 surface passivation stacks
期刊论文
iSwitch采集
Nanoscale research letters, 2015, 卷号: 10, 期号: 1
作者:
Xiang,Yuren
;
Zhou,Chunlan
;
Jia,Endong
;
Wang,Wenjing
收藏
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提交时间:2019/05/09
Atomic layer deposition
Al2o3
A-si:h(i)/al2o3 stack
Interface trap density