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Edge computing-based defect identification model of power IoT edge side devices 会议论文  OAI收割
Chongqing, China, November 6-8, 2020
作者:  
Li DW(李大伟);  Jia GT(贾耕涛);  Song CH(宋纯贺);  Yu SM(于诗矛)
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Effects of stacking fault energy on the creep behaviors of Ni-base superalloy 期刊论文  OAI收割
Materials & Design, 2014, 卷号: 64, 页码: 316-323
C. G. Tian; G. M. Han; C. Y. Cui; X. F. Sun
收藏  |  浏览/下载:34/0  |  提交时间:2015/01/14