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• 过程工程研究所 [1]

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• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2017 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 CBED Tools for semi-automatic measurement of crystal thicknesses 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, 2017, 卷号: 50, 页码: 313-319 作者:  Shi Honglong;  Luo Minting;  Wang Wenzhong 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2017/04/07 Convergent-beam Electron Diffraction  Thickness Measurement  Kossel-mollenstedt Fringes  Electron Diffraction  Computer Programs