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Determination of the transport properties in 4h-sic wafers by raman scattering measurement 期刊论文  iSwitch采集
Chinese physics b, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:  
Sun Guo-Sheng;  Liu Xing-Fang;  Wu Hai-Lei;  Yan Guo-Guo;  Dong Lin
收藏  |  浏览/下载:26/0  |  提交时间:2019/05/12
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement 期刊论文  OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:  
Sun Guo-Sheng;  Liu Xing-Fang;  Wu Hai-Lei;  Yan Guo-Guo;  Dong Lin
  |  收藏  |  浏览/下载:29/0  |  提交时间:2021/02/02
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement 期刊论文  OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: 6
作者:  
Sun Guo-Sheng;  Liu Xing-Fang;  Wu Hai-Lei;  Yan Guo-Guo;  Dong Lin
  |  收藏  |  浏览/下载:26/0  |  提交时间:2021/02/02
Determination of the transport properties in 4H-SiC wafers by Raman scattering measurement 期刊论文  OAI收割
chinese physics b, 2011, 卷号: 20, 期号: 3, 页码: article no.33301
作者:  
Liu XF;  Yan GG;  Zheng L;  Dong L
收藏  |  浏览/下载:50/3  |  提交时间:2011/07/05
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