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• 2008 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A unification of interface-state generation and hole-injection for hot-carrier-injection stress in low and high-voltage NMOSFET 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2008, 卷号: 48, 期号: 4, 页码: 504-507 Dai, MZ; Kim, SI; Yap, A; Liu, SH; Cheng, A; Yi, L 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2012/03/24 MOSFET DEGRADATION  MODEL