机构

• 半导体研究所 [2]
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• 金属研究所 [1]
• 宁波材料技术与工程研... [1]

采集方式

• OAI收割 [3]
• iSwitch采集 [2]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2020 [1]
• 2015 [1]
• 2014 [1]
• 2006 [2]

学科主题

• Chemistry [1]
• Materials ... [1]
• 光电子学 [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Stable and durable laser-induced graphene patterns embedded in polymer substrates 期刊论文  OAI收割 CARBON, 2020, 卷号: 163, 页码: 85-94 作者:  Cao, Lijun;  Zhu, Shuairu;  Pan, Baohai;  Dai, Xinyan;  Zhao, Weiwei   |  收藏  |  浏览/下载：74/0  |  提交时间：2020/12/16 X-RAY-DIFFRACTION  MICRO-SUPERCAPACITORS  OXYGEN EVOLUTION  ELECTRODES  SPECTROSCOPY  OXIDE  XRD   Micro-mechanical behavior of porous tungsten/Zr-based metallic glass composite under cyclic compression 期刊论文  OAI收割 MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 2015, 卷号: 643, 页码: 55-63 Zhang, X. Q.; Xue, Y. F.; Wang, L.; Fan, Q. B.; Nie, Z. H.; Zhang, H. F.; Fu, H. M. 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2016/04/21 Metallic glass  Composite  Micro-mechanical behavior  Finite element analysis (FEA)  High energy X-ray diffraction (HEXRD)   The crystal structure of kiddcreekite solved using micro x-ray diffraction and the epcryst program 期刊论文  iSwitch采集 Mineralogical magazine, 2014, 卷号: 78, 期号: 7, 页码: 1517-1525 作者:  Liu Wenyuan;  Dong Cheng;  Gu Xiangping;  Liu Yu;  Qiu Xiaoping 收藏  |  浏览/下载：114/0  |  提交时间：2019/05/09 Kiddcreekite  Crystal structure  Micro x-ray diffraction  Epcryst  Zijinshan cu-au deposit   Comparison between double crystals x-ray diffraction micro-raman measurement on composition determination of high ge content si1_xgex layer epitaxied on si substrate 期刊论文  iSwitch采集 Journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 作者:  Zhao, Lei;  Zuo, Yuhua;  Cheng, Buwen;  Yu, Jinzhong;  Wang, Qiming 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/05/12 Si1_xgex  Ge content  Composition determination  Double crystals x-ray diffraction (dcxrd)  Micro-raman measurement   Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate 期刊论文  OAI收割 journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 Zhao L (Zhao Lei); Zuo YH (Zuo Yuhua); Cheng BW (Cheng Buwen); Yu JZ (Yu Jinzhong); Wang QM (Wang Qiming) 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/04/11 Si1_xGex  Ge content  composition determination  double crystals X-ray diffraction (DCXRD)  micro-Raman measurement  BAND-GAP  HETEROSTRUCTURES  SUPERLATTICES  ALLOYS  RELAXATION  SCATTERING  THICKNESS  STRAIN