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化学研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2010 [1]
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XPS Study of the Thickness Nanosize Effect for Ultrathin SiO2 on Si Substrate
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICO-CHIMICA SINICA, 2010, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 3030-3034
作者:
Zhao Zhi-Juan
;
Liu Fen
;
Zhao Liang-Zhong
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提交时间:2019/04/09
Si Substrate
Silicon Oxide Film
Nanosize Thickness
Size Effect
X-ray Photoelectron Spectroscopy
Electron Binding Energy
Valence Band Spectrum
Extra-atomic Relaxation