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纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文  OAI收割
固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437
作者:  
崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹
  |  收藏  |  浏览/下载:36/0  |  提交时间:2018/01/18