机构

• 计算技术研究所 [1]
• 自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2011 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Path Delay Test generation Toward Activation of worst Case Coupling Effects 期刊论文  OAI收割 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982 作者:  minjin, zhang;  Huawei, Li;  Xiaowei,Li   |  收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2017/09/19 Crosstalk-induced Delay  Delay Testing  Path Delay Fault  Signal Integrity  Test Generation  Timing Analysis   Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982 作者:  Zhang, Minjin;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei   |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/16 Crosstalk-induced delay  delay testing  path delay fault  signal integrity  test generation  timing analysis