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Influence of high-dose nitrogen implantation on the positive charge density of the buried oxide of silicon-on-insulator wafers 期刊论文  iSwitch采集
Acta physica sinica, 2011, 卷号: 60, 期号: 5, 页码: 6
作者:  
Tang Hai-Ma;  Zheng Zhong-Shan;  Zhang En-Xia;  Yu Fang;  Li Ning
收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2019/05/12
Influence of high-dose nitrogen implantation on the positive charge density of the buried oxide of silicon-on-insulator wafers 期刊论文  OAI收割
acta physica sinica, 2011, 卷号: 60, 期号: 5, 页码: article no.56104
作者:  
Yu F
收藏  |  浏览/下载:105/6  |  提交时间:2011/07/06