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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索 期刊论文  OAI收割
光谱学与光谱分析, 1998, 期号: 1, 页码: 98-100
作者:  
彭良强;  魏成连;  刘亚雯;  张天保;  吴强
收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2015/12/25