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• 新疆理化技术研究所 [2]

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• OAI收割 [2]

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• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2019 [1]
• 2016 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5 作者:  Li, P (Li, Pei)[ 1 ];  He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ];  Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ];  Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]   |  收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2020/01/10 SiGe HBTs  Oxide isolation  ELDRS  EHPs generation  Holes trapping  Protons transportation   Total ionizing dose effects of domestic SiGe HBTs under different dose rates 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 期号: 3 作者:  Liu, MH (Liu, Mo-Han);  Lu, W (Lu, Wu);  Ma, WY (Ma, Wu-Ying);  Wang, X (Wang, Xin);  Guo, Q (Guo, Qi) 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2016/12/12 SiGe HBTs  TID  ELDRS  annealing