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机构
计算技术研究所 [3]
沈阳自动化研究所 [2]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [4]
学位论文 [1]
发表日期
2008 [1]
2006 [2]
2005 [1]
2003 [1]
学科主题
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共5条,第1-5条
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系统级芯片的测试与可测性设计方法研究
学位论文
OAI收割
沈阳: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2008
作者:
闫永志
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提交时间:2010/11/29
Soc测试
Dft
测试数据压缩
测试功耗
测试调度
SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2006, 卷号: 18, 期号: 9
作者:
韩银和
;
王伟
;
胡瑜
;
李晓维
;
张佑生
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提交时间:2010/11/23
Soc测试
芯核包装电路
不确定位
扫描切片
基于遗传算法的SOC测试功耗与时间协同优化
期刊论文
OAI收割
仪器仪表学报, 2006, 卷号: 27, 期号: S3, 页码: 2327-2328,2334
作者:
王宏
;
汪滢
;
李辛毅
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提交时间:2010/11/29
遗传算法
协同优化
Soc测试
SoC设计中的扫描测试技术
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2005, 卷号: 17, 期号: 12
作者:
张伸
;
李晓维
;
张志敏
;
徐勇军
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提交时间:2010/11/23
Soc
可测试性设计
扫描设计
层次化设计方法
SOC测试数据的编码压缩技术
期刊论文
OAI收割
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:
韩银和
;
李晓维
;
徐勇军
;
蒋敬旗
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提交时间:2023/12/04
测试
编码压缩技术
SOC
哈夫曼编码
游程编码
Golomb编码
最小海明距离排序
系统集成技术
集成电路