机构

• 金属研究所 [1]
• 半导体研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2016 [1]
• 2006 [1]

学科主题

• 光电子学 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 On the benefit of aberration-corrected HAADF-STEM for strain determination and its application to tailoring ferroelectric domain patterns 期刊论文  OAI收割 ULTRAMICROSCOPY, 2016, 卷号: 160, 页码: 57-63 Tang, Y. L.; Zhu, Y. L.; Man, X. L. 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2016/04/21 Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy  High angle annular dark field (HAADF)  Strain determination  Geometrical phase analysis (GPA)  Ferroelectric domain structure  PbTiO3 films   Comparison between double crystals X-ray diffraction micro-Raman measurement on composition determination of high Ge content Si1_xGex layer epitaxied on Si substrate 期刊论文  OAI收割 journal of materials science & technology, 2006, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 651-654 Zhao L (Zhao Lei); Zuo YH (Zuo Yuhua); Cheng BW (Cheng Buwen); Yu JZ (Yu Jinzhong); Wang QM (Wang Qiming) 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2010/04/11 Si1_xGex  Ge content  composition determination  double crystals X-ray diffraction (DCXRD)  micro-Raman measurement  BAND-GAP  HETEROSTRUCTURES  SUPERLATTICES  ALLOYS  RELAXATION  SCATTERING  THICKNESS  STRAIN