机构

• 计算技术研究所 [1]
• 中国科学院大学 [1]

采集方式

• iSwitch采集 [1]
• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2006 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Embedded test resource for soc to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on instrumentation and measurement, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2019/05/10 Automatic test equipment  Convolutional code  Diagnosis  Error cancellation  Masking  Unknown bits (x-bits)   Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A   |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)