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上海应用物理研究所 [1]
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用掠入射XAFS方法研究Ti/Ni/Ti纳米薄膜的界面结构
期刊论文
OAI收割
核技术, 2011, 期号: 7, 页码: 489-493
于海生
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黄宇营
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魏向军
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姜政
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王建强
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顾颂琦
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张硕
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高星
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提交时间:2013/09/11
掠入射
X射线吸收精细结构(XAFS)
Ti/Ni/Ti薄膜
X射线反射(XRR)
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