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机构
新疆理化技术研究所 [1]
上海微系统与信息技术... [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2019 [1]
2012 [1]
学科主题
Physics [1]
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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Total Ionizing Dose Responses of Forward Body Bias Ultra-Thin Body and Buried Oxide FD-SOI Transistors
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 4, 页码: 702-709
作者:
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ]
;
Xu, LW (Xu, Liewei)[ 2 ]
;
Ning, BX (Ning, Bingxu)[ 3 ]
;
Zhao, K (Zhao, Kai)[ 3 ]
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浏览/下载:125/0
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提交时间:2019/05/14
Back-gate biasing
forward body bias (FBB)
total ionizing dose (TID)
ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon-on-insulator (UTBB FD-SOI)
Impact of back-gate bias on the hysteresis effect in partially depleted SOI MOSFETs
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2012, 卷号: 21, 期号: 5, 页码: 56602
Luo, JX
;
Chen, J
;
Zhou, JH
;
Wu, QQ
;
Chai, Z
;
Yu, T
;
Wang, X
收藏
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提交时间:2013/04/17
floating body effect
hysteresis effect
back gate bias
partially depleted (PD) SOI