机构

• 新疆理化技术研究所 [2]
• 自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2016 [2]
• 2014 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序 Collection of charge in NMOS from single event effect 期刊论文  OAI收割 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2016, 卷号: 13, 期号: 8, 页码: 1-8 作者:  Wang, Jingqiu;  Lin, Fujiang;  Wang, Donglin;  Song, Wenna;  Liu, Li   |  收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2016/09/30 Single Event Effect  Ultra Deep Sub-micron  Double Exponential Transient Current Model  Multi-dimensional   Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7 作者:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Wang, HN (Wang Han-Ning);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao) 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2016/12/12 total ionizing dose effects  deep sub-micron  metal oxide semiconductor field effect transistor  static random access memory   Pattern imprinting in deep sub-micron static random access memories induced by total dose irradiation 期刊论文  OAI收割 Chinese Physics B, 2014, 卷号: 23, 期号: 10 作者:  Zheng, Qi-Wen;  Yu, Xue-Feng;  Cui, Jiang-Wei;  Guo, Qi;  Ren, Di-Yuan 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2014/11/11 total dose irradiation  static random access memory  pattern imprinting  deep sub-micron