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机构
沈阳自动化研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
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共1条,第1-1条
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In-Phase Bias Modulation Mode of Scanning Ion Conductance Microscopy With Capacitance Compensation
期刊论文
OAI收割
IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2015, 卷号: 62, 期号: 10, 页码: 6508-6518
作者:
Li P(李鹏)
;
Liu LQ(刘连庆)
;
Yang Y(杨洋)
;
Wang YC(王越超)
;
Li GY(李广勇)
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提交时间:2015/10/08
Capacitance compensation (CC)
in-phase bias modulation (IPBM) mode
scanning ion conductance microscopy (SICM)
signal-to-noise ratio (SNR)