机构

• 计算技术研究所 [2]
• 中国科学院大学 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2008 [3]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Design-for-testability features and test implementation of a giga hertz general purpose microprocessor 期刊论文  iSwitch采集 Journal of computer science and technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/05/10 Microprocessor design-for-testability  Test generation  Built-in self-test  At-speed testing   Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Wang, Da;  Hu, Yu;  Li, Hua-Wei;  Li, Xiao-Wei   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/12/16 microprocessor design-for-testability  test generation  built-in self-test  at-speed testing   Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor 期刊论文  OAI收割 Journal of Computer Science and Technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维)   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2010/11/02 Microprocessor Design-for-testability  Test Generation  Built-in Self-test  At-speed Testing