机构

• 大连化学物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2000 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序 Resolution deterioration in emission electron microscopy due to object roughness 期刊论文  OAI收割 annalen der physik, 2000, 卷号: 9, 期号: 6, 页码: 441-451 作者:  Nepijko, SA;  Sedov, NN;  Schonhense, G;  Escher, M;  Bao, XH 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2010/11/30 emission electron microscope (EEM)  resolution  object roughness  computer simulation