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金属研究所 [2]
半导体研究所 [2]
物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2011 [1]
2008 [1]
2007 [2]
2001 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
半导体物理 [1]
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浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
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Raman scattering and magnetizations studies of (Al, Cr)-codoped 4H-SiC
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS, 2011, 卷号: 323, 期号: 22, 页码: 2876
Song, B
;
Chen, XL
;
Han, JC
;
Wang, G
;
Bao, HQ
;
Duan, LB
;
Zhu, KX
;
Li, H
;
Zhang, ZH
;
Wang, WY
;
Wang, WJ
;
Zhang, XH
;
Meng, SH
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提交时间:2013/09/24
HIGH-TEMPERATURE FERROMAGNETISM
6H-SIC SINGLE-CRYSTALS
MAGNETIC-PROPERTIES
DOPED ALN
SILICON-CARBIDE
ZINC-OXIDE
THIN-FILMS
MN
GROWTH
SEMICONDUCTORS
Fracture properties of silicon carbide thin films by bulge test of long rectangular membrane
期刊论文
OAI收割
journal of microelectromechanical systems, 2008, 卷号: 17, 期号: 2, 页码: 453-461
Zhou, W
;
Yang, JL
;
Sun, GS
;
Liu, XF
;
Yang, FH
;
Li, JM
收藏
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浏览/下载:59/0
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提交时间:2010/03/08
bulge test
fracture property
microelectromechanical systems (MEMS)
silicon carbide (SiC) thin films
Weibull distribution function
Synthesis of silicon carbide films by combined implantation with sputtering techniques
期刊论文
OAI收割
Applied Surface Science, 2007, 卷号: 253, 期号: 20, 页码: 8428-8434
G. B. Li
;
J. Z. Zhang
;
Q. L. Meng
;
W. Z. Li
收藏
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提交时间:2012/04/13
silicon carbide
MEVVA
IBAD
ion implantation
chemical-vapor-deposition
thin-films
sic films
raman-scattering
internal-stress
laser-ablation
3c-sic films
growth
beam
relaxation
TEM investigations on layered ternary ceramics
期刊论文
OAI收割
Journal of Materials Science & Technology, 2007, 卷号: 23, 期号: 2, 页码: 145-165
Z. J. Lin
;
M. S. Li
;
Y. C. Zhou
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2012/04/13
layered ternary ceramics
MAX phase
TEM
STEM
interfacial structure
liquid reaction synthesis
transmission electron-microscope
high-temperature oxidation
ab-initio calculations
ti3sic2 thin-films
titanium-silicon carbide
si-c system
ti-al-c
mechanical-properties
crystal-structure
Microtwins and twin inclusions in the 3C-SiC epilayers grown on Si(001) by APCVD
期刊论文
OAI收割
science in china series a-mathematics physics astronomy, 2001, 卷号: 44, 期号: 6, 页码: 777-782
Zheng XH
;
Qu B
;
Wang YT
;
Dai ZZ
;
Yang H
;
Liang JW
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提交时间:2010/08/12
3C-SiC
microtwins
X-ray four-circle diffractometer
APCVD
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
SILICON-CARBIDE
PHASE EPITAXY
THIN-FILMS
GAN
SI
SUBSTRATE
DEFECTS
NITRIDE
MBE