机构

• 国家空间科学中心 [1]
• 新疆理化技术研究所 [1]
• 近代物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2020 [1]
• 2015 [1]
• 2013 [1]

学科主题

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 8, 页码: 1861-1868 作者:  Cai, YL (Cai, Yulong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 3 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 3 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 3 ]   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2020/09/09 Complementary metal-oxide-semiconductor  (CMOS) image sensors (CIS)  heavy ions  pulsed laser  single-event latchup (SEL)  single-event transient (SET)   Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 页码: 1341-1348 作者:  Shao, Cuiping;  Li, Huiyun;  Xu, Guoqing;  Guo, Jinlong;  Dai, Liang   |  收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2018/05/31 Cryptographic integrated circuits  fault injection  heavy ion  microbeam  single-event transient (SET)   A single-event transient induced by a pulsed laser in a silicon-germanium heterojunction bipolar transistor 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 56103 作者:  Sun Ya-Bin;  Fu Jun;  Xu Jun;  Wang Yu-Dong;  Zhou Wei 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/10/29 single event transient (SET)  pulsed laser  charge collection  SiGe heterojunction bipolar transistor (HBT)