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计算技术研究所 [1]
数学与系统科学研究院 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2018 [1]
2016 [1]
学科主题
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共2条,第1-2条
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An Improved Domain Decomposition Method for Drop Impact Reliability Analysis of 3-D ICs
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 8, 期号: 10, 页码: 1788-1799
作者:
Zhou, Hao
;
Zhu, Hengliang
;
Cui, Tao
;
Pan, David Z.
;
Zhou, Dian
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提交时间:2018/11/16
Domain decomposition (DD)
drop test
reliability
through-silicon via (TSV)
PSI Conscious Write Scheduling: Architectural Support for Reliable Power Delivery in 3-D Die-Stacked PCM
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2016, 卷号: 24, 期号: 5, 页码: 1613-1625
作者:
Wang, Ying
;
Han, Yinhe
;
Li, Huawei
;
Zhang, Lei
;
Cheng, Yuanqing
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2019/12/13
3-D integration
IR-drop
phase-change memory (PCM)
through-silicon-via (TSV)
write throughput