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西安光学精密机械研究... [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2016 [1]
学科主题
chemical p... [1]
data proce... [1]
light/opti... [1]
optical va... [1]
single ele... [1]
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学科主题:data processing and image processing
内容类型:会议论文
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Measurement of excited layer thickness in highly photo-excited GaAs
会议论文
OAI收割
international symposium on optical measurement technology and instrumentation, beijing, china, 2016-05-09
作者:
Liang, Lingliang
;
Tian, Jinshou
;
Wang, Tao
;
Wu, Shengli
;
Li, Fuli
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提交时间:2017/01/17
Gallium arsenide
Optical data processing
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Semiconducting gallium