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In-situ TEM mechanical characterization of nanowire in atomic scale using MEMS device 期刊论文  OAI收割
MICROSYSTEM TECHNOLOGIES-MICRO-AND NANOSYSTEMS-INFORMATION STORAGE AND PROCESSING SYSTEMS, 2018, 卷号: 24, 期号: 4, 页码: 2045, 2049
作者:  
Zhang, Xiao;  Yang, Yang;  Xu, Fangfang;  Li, Tie;  Wang, Yuelin
  |  收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2018/12/28
YOUNG'S MODULUS SIZE EFFECT OF SCS NANOBEAM BY TENSILE TESTING IN ELECTRON MICROSCOPY 期刊论文  OAI收割
2009 IEEE SENSORS, VOLS 1-3, 2009, 页码: 205-208
Jin, QH; Li, T; Wang, YL; Li, XX; Yang, H; Xu, FF
收藏  |  浏览/下载:10/0  |  提交时间:2011/12/17