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• 上海微系统与信息技术... [2]

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• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2007 [1]
• 2004 [1]

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• Engineerin... [1]
• Physics [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Threshold voltage shift due to mechanical stress-enhanced plasma process-induced damage in 0.13-mu m pMOSFET 期刊论文  OAI收割 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2007, 卷号: 28, 期号: 5, 页码: 360-362 Li, R; Kong, WR; Tao, K; Yu, LJ; Huang, K; Ning, J; Geng, CQ; Wang, CD 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/03/24 GATE OXIDES  DEGRADATION   Research on high-T-c SQUID based non-destructive evaluation 期刊论文  OAI收割 Chinese Physics, 2004, 期号: 0, 页码: 19-23 Wang,HW; Kong,XY; Ren Yu-Feng; Yu Hong-We; , Ding Hong-Sheng; Zhao Shi-Ping; Chen Geng-Hua; Zhou Yue-Liang; Zhang Li-Hua; He Yu-Sheng; Yang Qian-Sheng 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/07/05 SQUID  resolution  eddy current