机构

• 半导体研究所 [2]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 1997 [1]
• 1996 [1]

学科主题

• 半导体器件 [2]

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 学科主题：半导体器件     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Temperature-stimulated abnormal annealing of neutron-induced damage in high-resistivity silicon detectors 期刊论文  OAI收割 nuclear instruments & methods in physics research section a-accelerators spectrometers detectors and associated equipment, 1997, 卷号: 385, 期号: 2, 页码: 321-329 Li Z; Li CJ; Verbitskaya E; Eremin V 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/11/17 CHARGES N-EFF  RADIATION-DAMAGE  SPECTROSCOPY   Investigation on the N-eff reverse annealing effect using TSC/I-DLTS: Relationship between neutron induced microscopic defects and silicon detector electrical degradations 期刊论文  OAI收割 nuclear instruments & methods in physics research section a-accelerators spectrometers detectors and associated equipment, 1996, 卷号: 377, 期号: 0, 页码: 265-275 Li Z; Li CJ; Eremin V; Verbitskaya E 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2010/11/17 RADIATION-DAMAGE  RESISTIVITY