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  • 上海光学精密机械研究... [1]
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Trace Element Analysis by PIYE and ICP-AES of Raw Material and Ancient Serpentine Artifacts from China 期刊论文  OAI收割
光谱学与光谱分析, 2016, 卷号: 36, 期号: 11, 页码: 3780
作者:  
Dong JQ(董俊卿);  Wang YY(王永亚);  Gan FX(干福熹);  Li QH(李青会)
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