机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 外文期刊 [1]

发表日期

• 2006 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：外文期刊    发表日期：2006     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Nanoscale strain analysis of strained-Si metal-oxide-semiconductor field effect transistors by large angle convergent-beam electron diffraction 外文期刊  OAI收割 2006 作者:     |  收藏  |