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• 新疆理化技术研究所 [2]

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• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2021 [2]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位    发表日期：2021     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Analysis of Dark Signal Degradation Caused by 1 MeV Neutron Irradiation on Backside-Illuminated CMOS Image Sensors 期刊论文  OAI收割 CHINESE JOURNAL OF ELECTRONICS, 2021, 卷号: 30, 期号: 1, 页码: 180-184 作者:  Liu, BK (Liu Bingkai)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li Yudong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou Dong)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng Jie)[ 1,2 ]   |  收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2021/05/10 Backside‐  illuminated CMOS image sensors  Dark signal behaviors  Displacement damage effects  Neutron irradiation   Mechanism of Ionization Damage in Large Eight-Transistor Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Color Image Sensors 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF NANOELECTRONICS AND OPTOELECTRONICS, 2021, 卷号: 16, 期号: 11, 页码: 1755-1761 作者:  Feng, J (Feng, Jie) [1] , [2];  Fu, J (Fu, Jing) [1] , [2] , [3];  Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2];  Wen, L (Wen, Lin) [1] , [2];  Guo, Q (Guo, Qi) [1] , [2]   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2022/03/24 CMOS Color Image Sensor  Ionization Damage  Radiation-Sensitive Parameters