机构

• 上海光学精密机械研... [11]

采集方式

• OAI收割 [11]

内容类型

• 期刊论文 [11]

发表日期

• 2008 [1]
• 2007 [2]
• 2006 [1]
• 2005 [7]

学科主题

• 光学薄膜 [11]

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浏览/检索结果: 共11条，第1-10条 帮助 限定条件 学科主题：光学薄膜     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 退火对HfO2/SiO2多层膜残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 225, 227 申雁鸣; 韩朝霞; 邵建达; 邵淑英; 贺洪波 收藏  |  浏览/下载：1181/170  |  提交时间：2009/09/22 退火  Annealing effects  HfO2/SiO2多层膜  Electron beam evaporation  残余应力   薄膜厚度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 稀有金属材料与工程, 2007, 卷号: 36, 期号: 3, 页码: 412, 415 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1091/173  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 thin film  残余应力  residual stress  膜厚  thin film thickness  电子束蒸发  electron beam evaporation   沉积温度对LaF3薄膜性能的影响 期刊论文  OAI收割 强激光与粒子束, 2007, 卷号: 19, 期号: 9, 页码: 1507, 1511 余华; 崔云; 申雁鸣; 齐红基; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1036/222  |  提交时间：2009/09/22 Crystal structure  Deposition  Grain size and shape  Interferometers  Lanthanum compounds  Refractive index  Residual stresses  Spectrophotometers  Temperature  X ray diffraction   沉积温度对电子束蒸发HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 中国激光, 2006, 卷号: 33, 期号: 6, 页码: 827, 831 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修 收藏  |  浏览/下载：715/114  |  提交时间：2009/09/22 薄膜  HfO2薄膜  残余应力  沉积温度  基底  电子束蒸发   Study of thermal behaviors in CO2 laser irradiated glass 期刊论文  OAI收割 opt. eng., 2005, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 44202 Wei CY; 贺洪波; Deng Z; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：590/121  |  提交时间：2009/09/22 laser induced damage  temperature field  stress   沉积温度对HfO2薄膜残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 强激光与粒子束, 2005, 卷号: 17, 期号: 12, 页码: 1812, 1816 申雁鸣; 贺洪波; 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：540/107  |  提交时间：2009/09/22 HfO2薄膜  HfO2 films  残余应力  Residual stress  沉积温度  Deposition temperature  微结构  Microstructure  X射线衍射  XRD   氧分压对电子束蒸发SiO2薄膜机械性质和光学性质的影响 期刊论文  OAI收割 光子学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 5, 页码: 742, 745 邵淑英; 范正修; 邵建达; 沈卫星; 江敏华 收藏  |  浏览/下载：678/105  |  提交时间：2009/09/22 SiO2薄膜  SiO_2 films  氧分压  Oxygen partial pressure  残余应力  Residual stress  表面形貌  Surface morphology  折射率  Refractive index  电子束蒸发  Electron beam evaporation   薄膜应力研究 期刊论文  OAI收割 激光与光电子学进展, 2005, 卷号: 42, 期号: 1, 页码: 22, 27 邵淑英; 范正修; 范瑞瑛; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：834/145  |  提交时间：2009/09/22 薄膜应力  thin films  研究  stress  新进展   ZrO2／SiO2多层膜中膜厚组合周期数及基底材料对残余应力的影响 期刊论文  OAI收割 物理学报, 2005, 卷号: 54, 期号: 7, 页码: 3312, 3316 邵淑英; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：885/165  |  提交时间：2009/09/22 残余应力  ZrO2/SiO2 multilayers  SiO2  residual stress  ZrO2  periods of repeating thickness  多层膜  周期数  组合  膜厚  基底材料  X射线衍射技术  玻璃基底  电子束蒸发  光学干涉仪  应力值  沉积条件  曲率半径  测量分析  石英基底  变化趋势  结构应变  结晶程度  相互作用  折射率  熔石英  压应力  微结构   Study of thermal behaviors in CO2 laser irradiated glass 期刊论文  OAI收割 opt. eng., 2005, 卷号: 44, 期号: 4, 页码: 44202 Wei CY; 贺洪波; Deng Z; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：1548/777  |  提交时间：2009/09/22 laser induced damage  temperature field  stress