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机构
西安光学精密机械研究... [4]
沈阳自动化研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [7]
内容类型
专利 [7]
发表日期
2018 [1]
2016 [1]
2011 [3]
2008 [1]
2002 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共7条，第1-7条
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内容类型：专利
条数/页：
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Circuit arrangement and method for controlling and measuring a current in a charge element
专利
OAI收割
专利号: US20180331499A1, 申请日期: 2018-11-15, 公开日期: 2018-11-15
作者:
BELLINGRATH, THOMAS
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浏览/下载：12/0
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提交时间：2019/12/31
联合收割机谷物流量检测装置
专利
OAI收割
专利类型: 实用新型, 专利号: CN205408586U, 申请日期: 2016-08-03, 公开日期: 2016-08-03
作者:
胡静涛
;
王鹤
;
高雷
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浏览/下载：111/0
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提交时间：2016/09/07
Volume lifetime measurement
专利
OAI收割
专利号: EP2037288B1, 申请日期: 2011-06-22, 公开日期: 2011-06-22
作者:
ALLIBERT, FREDERIC
;
KONONCHUK, OLEG
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浏览/下载：12/0
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提交时间：2019/12/23
大范围视觉坐标测量中像机参数的快速获取方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN102095368A, 申请日期: 2011-06-15, 公开日期: 2012-07-25
作者:
宫俊玲
;
王玉良
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浏览/下载：10/0
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提交时间：2013/10/15
大范围视觉坐标测量中像机参数的快速获取方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN102095368B, 申请日期: 2011-06-15, 公开日期: 2012-07-25
作者:
宫俊玲
;
王玉良
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浏览/下载：67/0
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提交时间：2014/04/16
Method of photo-reflectance characterization of strain and active dopant in semiconductor structures
专利
OAI收割
专利号: EP1952122A2, 申请日期: 2008-08-06, 公开日期: 2008-08-06
作者:
CHISM, WILLIAM, W
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浏览/下载：8/0
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提交时间：2019/12/31
Apparatus and method for determining the active dopant profile in a semiconductor wafer
专利
OAI收割
专利号: EP1192444A1, 申请日期: 2002-04-03, 公开日期: 2002-04-03
作者:
BORDEN, PETER, G.
;
NIJMEIJER, REGINA, G.
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提交时间：2019/12/31
