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机构
沈阳自动化研究所 [10]
西安光学精密机械研究... [7]
微电子研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [18]
内容类型
专利 [18]
发表日期
2017 [1]
2015 [2]
2012 [2]
2009 [4]
2008 [2]
1992 [1]
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浏览/检索结果:
共18条,第1-10条
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内容类型:专利
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极紫外光刻掩模缺陷检测系统
专利
OAI收割
专利号: US9546964, 申请日期: 2017-01-17, 公开日期: 2013-10-17
作者:
李海亮
;
谢常青
;
刘明
;
李冬梅
;
牛洁斌
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2018/07/19
一种实时圆形印刷图像缺陷检测方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN104680509A, 申请日期: 2015-06-03,
作者:
刘云鹏
;
夏仁波
;
惠斌
;
王学娟
;
王永超
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2015/07/01
一种实时圆形印刷图像缺陷检测方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN104680509B, 申请日期: 2015-06-03, 公开日期: 2017-09-15
作者:
王永超
;
刘云鹏
;
惠斌
;
王学娟
;
王喆鑫
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2017/10/19
一种合金固件内部缺陷三维重建方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN102486462A, 申请日期: 2012-06-06, 公开日期: 2014-04-09
作者:
赵大威
;
赵怀慈
;
郝明国
;
赵春阳
;
周雷
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浏览/下载:51/0
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提交时间:2013/10/15
一种合金固件内部缺陷三维重建方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN102486462B, 申请日期: 2012-06-06, 公开日期: 2014-04-09
作者:
赵大威
;
赵怀慈
;
郝明国
;
赵春阳
;
周雷
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2014/07/30
基于SPM探针增强作业的纳米操作系统
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN101419466A, 申请日期: 2009-04-29, 公开日期: 2010-11-03
作者:
刘志华
;
杨永良
;
董再励
;
王越超
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提交时间:2013/10/15
一种SPM探针增强作业方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明, 专利号: CN101419465A, 申请日期: 2009-04-29, 公开日期: 2010-04-07
作者:
刘志华
;
杨永良
;
董再励
;
王越超
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2013/10/15
基于SPM探针增强作业的纳米操作系统
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101419466B, 申请日期: 2009-04-29, 公开日期: 2010-11-03
作者:
刘志华
;
杨永良
;
董再励
;
王越超
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2014/04/16
一种SPM探针增强作业方法
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101419465B, 申请日期: 2009-04-29, 公开日期: 2010-04-07
作者:
刘志华
;
杨永良
;
董再励
;
王越超
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2014/04/16
表面缺陷检测方法和装置
专利
OAI收割
专利类型: 发明授权, 专利号: CN101256157B, 申请日期: 2008-09-03, 公开日期: 2010-06-02
作者:
邬纪泽
;
李伟
;
沈大刚
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提交时间:2014/04/16