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• 新疆理化技术研究所 [1]

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• OAI收割 [1]

内容类型

• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2020 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：期刊论文    专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Impact of electrical stress on total ionizing dose effects on graphene nano-disc non-volatile memory devices 期刊论文  OAI收割 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 期号: 11, 页码: 1-5 作者:  Xi, K (Xi, K.)[ 1 ];  Bi, JS (Bi, J. S.)[ 1,2 ];  Xu, YN (Xu, Y. N.)[ 1 ];  Li, YD (Li, Y. D.)[ 3 ];  Zhang, ZG (Zhang, Z. G.)[ 4 ]   |  收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2021/01/05