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长春光学精密机械与物... [8]
采集方式
OAI收割 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2017 [2]
2016 [5]
2015 [1]
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共8条,第1-8条
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专题:长春光学精密机械与物理研究所
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Determination of cut-off time of accelerated aging test under temperature stress for LED lamps
期刊论文
OAI收割
Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2017, 卷号: 18, 期号: 8
作者:
Hao, J.
;
L. Jing
;
H. L. Ke
;
Y. Wang
;
Q. Gao
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Erratum to: Determination of cut-off time of accelerated aging test under temperature stress for LED lamps (Front. Inform. Technol. Electron. Eng, (2017), 18, 8, 1197-1204, 10.1631/FITEE.1500483)
期刊论文
OAI收割
2017, 卷号: 18, 期号: 10
作者:
Hao, J.
;
L. Jing
;
H.-l. Ke
;
Y. Wang
;
Q. Gao
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  |  
Disparity between online and offline tests in accelerated aging tests of LED lamps under electric stress
期刊论文
OAI收割
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 27
作者:
Wang, Y.
;
L. Jing
;
H. L. Ke
;
J. Hao
;
Q. Gao
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  |  
The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress
期刊论文
OAI收割
Ieee Transactions on Electron Devices, 2016, 卷号: 63, 期号: 3
作者:
Hao, J.
;
Q. Sun
;
Z. J. Xu
;
L. Jing
;
Y. Wang and H. L. Ke
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  |  
Estimation of the average junction temperature of two phosphors-converted white LED array based on (B plus Y plus R)/B ratio
期刊论文
OAI收割
Solid-State Electronics, 2016, 卷号: 121
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
J. Hao
;
Q. Gao
;
Y. Wanga
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  |  
New method of online testing and data processing for LED lamps
期刊论文
OAI收割
Journal of Southeast University (English Edition), 2016, 卷号: 32, 期号: 4
作者:
Hao, J.
;
L. Jing
;
H. Ke
;
Y. Wang
;
Q. Gao
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  |  
Analysis of junction temperature and modification of luminous flux degradation for white LEDs in a thermal accelerated reliability test
期刊论文
OAI收割
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 22
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
J. Hao
;
Q. Gao
;
Y. Wang
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Comparison of online and offline tests in LED accelerated reliability tests under temperature stress
期刊论文
OAI收割
Applied Optics, 2015, 卷号: 54, 期号: 33, 页码: 9906-9910
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
Q. Gao
;
Y. Wang
;
J. Hao
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