机构

• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [1]

内容类型

• 专利 [1]

发表日期

• 2015 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2015     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 确定场效应管老化条件的方法、场效应管老化方法及场效应管筛选方法 专利  OAI收割 专利号: CN201110163890.4, 申请日期: 2015-06-10, 公开日期: 2012-12-19 作者:  刘新宇;  郑英奎;  欧阳思华;  李艳奎   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2016/09/12