中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
新疆理化技术研究所 [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2017 [1]
2015 [2]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
限定条件
专题:新疆理化技术研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
发表日期升序
发表日期降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
Analysis of proton and gamma-ray radiation effects on CMOS active pixel sensors
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 1-5
作者:
Ma, LD (Ma, Lindong)
;
Li, YD (Li, Yudong)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Wen, L (Wen, Lin)
;
Zhou, D (Zhou, Dong)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:36/0
  |  
提交时间:2018/01/08
Complementary Metal-oxide-semiconductor (Cmos) Active Pixel Sensor
Dark Current
Fixed-pattern Noise
Quantum Efficiency
Low frequency noise and radiation response in the partially depleted SOI MOSFETs with ion implanted buried oxide
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 8, 页码: 1-6
作者:
Liu, Y (Liu Yuan)
;
Chen, HB (Chen Hai-Bo)
;
Liu, YR (Liu Yu-Rong)
;
Wang, X (Wang Xin)
;
En, YF (En Yun-Fei)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:23/0
  |  
提交时间:2018/01/25
SilicOn On Insulator
Ion implantatIon
Ionizing Radiation
Low Frequency Noise
Dark signal degradation in proton-irradiated complementary metal oxide semiconductor active pixel sensor
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 193-199
作者:
Wang, B (Wang Bo)
;
Li, YD (Li Yu-Dong)
;
Guo, Q (Guo Qi)
;
Liu, CJ (Liu Chang-Ju)
;
Wen, L (Wen Lin)
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2018/01/26
Complementary Metal Oxide Semiconductor Active Pixel Sensor
Dark Signal
Proton Radiation
Displacement Effect