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机构
半导体研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2007 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
筛选
浏览/检索结果:
共1条,第1-1条
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限定条件
学科主题:半导体材料
发表日期:2007
条数/页:
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Micro-raman investigation of defects in a 4H-SiC homoepilayer
会议论文
OAI收割
6th european conference on silicon carbide and related materials, newcastle upon tyne, england, sep, 2006
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
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Zhao, YM (Zhao, Y. M.)
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Li, JY (Li, J. Y.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Luo, MC (Luo, M. C.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
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提交时间:2010/03/29
micro-raman
4H-SiC
defects
3C-inclusions
triangle-shaped inclusion
EPITAXIAL LAYERS
SILICON-CARBIDE