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Focused ion beam preparation of microbeams forin situmechanical analysis of electroplated nanotwinned copper with probe type indenters 期刊论文  OAI收割
JOURNAL OF MICROSCOPY, 2020, 卷号: 279, 期号: 3, 页码: 212-216
作者:  
Robertson, Stuart;  Doak, Scott;  Sun, Fu-Long;  Liu, Zhi-Quan;  Liu, Changqing
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