基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘伟军 ; 夏仁波; 邢飞
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| 刊名 | 仪器仪表学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 28期号:S页码:23-25 |
| 关键词 | 摄像机标定 线结构光 熔覆层厚度 数据融合 |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本文提出了基于单CCD应用线结构光测量熔覆层厚度的理论方法，结合摄像机标定、光平面标定、被测物体点三维坐标计算、数据融合、对应点匹配和熔覆层厚度计算等关键技术，建立了一套基于单CCD借助线结构光测量熔覆层厚度的系统，并对系统的结构进行了详细的叙述，此系统的建立为实现熔覆层厚度的定量测量提供了技术支持。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-29 |
| 源URL | [http://210.72.131.170//handle/173321/3931]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_工业信息学研究室_先进制造技术研究室 |
| 作者单位 | 1.中国科学院研究生院 2.中国科学院沈阳自动化研究所先进制造技术重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘伟军,夏仁波,邢飞. 基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度[J]. 仪器仪表学报,2007,28(S):23-25. |
| APA | 刘伟军,夏仁波,&邢飞.(2007).基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度.仪器仪表学报,28(S),23-25. |
| MLA | 刘伟军,et al."基于单CCD应用线结构光测量熔敷层厚度".仪器仪表学报 28.S(2007):23-25. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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