PIN超结结构
文献类型:专利
作者 | 卢烁今![]() ![]() |
发表日期 | 2018-03-30 |
专利号 | CN201310085640.2 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 ; 上海联星电子有限公司 ; 江苏中科君芯科技有限公司 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明公开了一种PIN超结结构,包括:N型柱、P型柱、发射极、基区、发射极金属层、缓冲层、集电极、集电极金属层及本征区;所述N型柱依次通过缓冲层、集电极与集电极金属层连接;所述P型柱与所述基区连接;所述发射极金属层分别与发射极及基区电学连接;所述本征区设置在N型柱及P型柱之间。本发明提供的PIN超结结构,在传统的N+/P+柱之间加入本征区域,从而使N+/P+柱的宽度和掺杂浓度的约束关系去除,不仅能给器件设计提供更大的自由度,还能更好的去折中器件的性能。 |
公开日期 | 2014-06-04 |
申请日期 | 2013-03-18 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18664] ![]() |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 卢烁今,张文亮,朱阳军,等. PIN超结结构. CN201310085640.2. 2018-03-30. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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