一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法
文献类型:专利
作者 | 胡爱斌; 卢烁今; 褚为利; 朱阳军 |
发表日期 | 2018-03-30 |
专利号 | CN201210551729.9 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 ; 江苏物联网研究发展中心 ; 江苏中科君芯科技有限公司 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明涉及绝缘栅场效应晶体管技术领域,公开了一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法。该制作方法包括:采用N型SiC单晶材料作为衬底材料,并在SiC的表面外延生长出石墨烯,形成石墨烯导电层;刻蚀石墨烯,并保留栅极下方的元胞区之间的非沟道区域的石墨烯;按照制作绝缘栅场效应晶体管的工艺要求形成P型基区、N型发射区、有源区金属层及栅极金属层;在绝缘栅场效应晶体管金属化后,在绝缘栅场效应晶体管的背面生成集电极金属。本发明在不降低器件的耐压特性的基础上,降低了芯片的整体电阻,使得器件具有更小的饱和导通压降。 |
公开日期 | 2014-06-18 |
申请日期 | 2012-12-18 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://159.226.55.107/handle/172511/18665] |
专题 | 微电子研究所_硅器件与集成研发中心 |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡爱斌,卢烁今,褚为利,等. 一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法. CN201210551729.9. 2018-03-30. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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