中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法

文献类型:专利

作者胡爱斌; 卢烁今; 褚为利; 朱阳军
发表日期2018-03-30
专利号CN201210551729.9
著作权人中国科学院微电子研究所 ;  江苏物联网研究发展中心 ;  江苏中科君芯科技有限公司
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及绝缘栅场效应晶体管技术领域,公开了一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法。该制作方法包括:采用N型SiC单晶材料作为衬底材料,并在SiC的表面外延生长出石墨烯,形成石墨烯导电层;刻蚀石墨烯,并保留栅极下方的元胞区之间的非沟道区域的石墨烯;按照制作绝缘栅场效应晶体管的工艺要求形成P型基区、N型发射区、有源区金属层及栅极金属层;在绝缘栅场效应晶体管金属化后,在绝缘栅场效应晶体管的背面生成集电极金属。本发明在不降低器件的耐压特性的基础上,降低了芯片的整体电阻,使得器件具有更小的饱和导通压降。

公开日期2014-06-18
申请日期2012-12-18
语种中文
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18665]  
专题微电子研究所_硅器件与集成研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
胡爱斌,卢烁今,褚为利,等. 一种绝缘栅场效应晶体管及其制作方法. CN201210551729.9. 2018-03-30.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。