基于AFM的纳米线沉积加工方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘连庆 ; 刘志华; 焦念东
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| 刊名 | 科学通报
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| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 58期号:S2页码:200-206 |
| 关键词 | 纳米操作 纳米沉积 原子力显微镜 电场加工 |
| ISSN号 | 0023-074X |
| 其他题名 | Atomic force microscope deposition method for nano-lines |
| 产权排序 | 1 |
| 中文摘要 | 纳米器件具有巨大的应用潜力,但是纳米器件中各部件的连接问题是困扰纳米器件加工的一个难题.本文介绍了一种基于AFM的纳米线条沉积加工方法,该方法有望用作纳米器件的焊接手段,改善纳米部件的物理固定和电气连接.采用本文的方法,可以加工连续的纳米线条,而不是通过沉积一排点连通成线.该方法包括两个特点,其一是采用电流诱导沉积发生,而不是电压,实验表明施加电流比施加电压得到的纳米线更加平滑连续;其二,AFM沉积加工是基于场蒸发的原理,因此针尖基底距离是影响场蒸发的重要因素,本文采用了一种简便易行的针尖基底距离控制方法,使沉积加工操作简单易行. |
| 英文摘要 | Nano-devices have many potential applications. However, how to connect the nano-components is a problem during fabrication of nano-devices. This paper introduces a nano-line deposition method with atomic force microscope (AFM). This method is expected to be used as a nano-welding technique, which can improve the physical and electrical connections between the various components of nano-devices. With this method, nano-lines can be deposited continuously, rather than depositing a row of nano-dots to form a nano-line. The method comprises two features. One is current-induced deposition rather than voltage. Experiments show that current-induced method can fabricate more continuous and smoother nano-lines than voltage-induced method.The other is a simple tip-substrate distance control means. AFM deposition is based on field emission theory, so tip-substrate distance is an important factor for field emission. A simple tip-substrate distance control means is introduced in this paper, which makes the deposition process easier. |
| 资助信息 | 国家自然科学基金(61106109,61304251);中国科学院-国家外国专家局创新团队国际合作伙伴计划资助 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.sia.ac.cn/handle/173321/14691]  |
| 专题 | 沈阳自动化研究所_机器人学研究室 |
| 通讯作者 | 刘连庆; 焦念东 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘连庆,刘志华,焦念东. 基于AFM的纳米线沉积加工方法[J]. 科学通报,2013,58(S2):200-206. |
| APA | 刘连庆,刘志华,&焦念东.(2013).基于AFM的纳米线沉积加工方法.科学通报,58(S2),200-206. |
| MLA | 刘连庆,et al."基于AFM的纳米线沉积加工方法".科学通报 58.S2(2013):200-206. |
入库方式： OAI收割
来源：沈阳自动化研究所
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