中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [2]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2009 [2]
学科主题
激光技术;激光物理与... [1]
筛选
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
限定条件
发表日期:2009
内容类型:期刊论文
专题:上海光学精密机械研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Investigation of the influence of the aberration induced by a plane interface on STED microscopy
期刊论文
OAI收割
opt. express, 2009, 卷号: 17, 期号: 3, 页码: 1714, 1725
Deng Suhui
;
Liu Li
;
程亚
;
李儒新
;
徐至展
收藏
  |  
浏览/下载:879/83
  |  
提交时间:2009/09/18
DEPLETION FLUORESCENCE MICROSCOPY
DIFFRACTION RESOLUTION LIMIT
LAGUERRE-GAUSSIAN BEAMS
ELECTROMAGNETIC DIFFRACTION
INTEGRAL-REPRESENTATION
STIMULATED-EMISSION
OPTICAL SYSTEMS
IMAGE FIELD
FREE-SPACE
POLARIZATION
Characterization of m-plane ZnO thin film on gamma-LiAlO2 (100) substrate by metal-organic chemical vapor deposition
期刊论文
OAI收割
j. alloy. compd., 2009, 卷号: 467, 期号: 1-2, 页码: l8, l10
Lin Hui
;
周圣明
;
Huang Taohua
;
Teng Hao
;
Liu Xuedong
;
Gu Shulin
;
Zhu Shunming
;
Xie Zili
;
Han Ping
;
Zhang Rong
收藏
  |  
浏览/下载:1151/140
  |  
提交时间:2009/09/24
Semiconductors
X-ray diffraction
Anisotropy