机构

• 半导体研究所 [2]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2006 [2]

学科主题

• 半导体材料 [2]

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2006    学科主题：半导体材料    内容类型：期刊论文     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A comparison between contactless electroreflectance and photoreflectance spectra from n-doped GaAs on a semi-insulating GaAs substrate 期刊论文  OAI收割 semiconductor science and technology, 2006, 卷号: 21, 期号: 10, 页码: 1467-1471 Jin P (Jin Peng); Pan SH (Pan S. H.); Li YG (Li Y. G.); Zhang CZ (Zhang C. Z.); Wang ZG (Wang Z. G.) 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2010/04/11 FRANZ-KELDYSH OSCILLATIONS  DIFFERENTIAL PHOTOREFLECTANCE  MODULATION SPECTROSCOPY  FOURIER TRANSFORMATION  INTERFACES  SURFACE   Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces 期刊论文  OAI收割 materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 275-278 Sun GS (Sun G. S.); Liu XF (Liu X. F.); Gong QC (Gong Q. C.); Wang L (Wang L.); Zhao WS (Zhao W. S.); Li JY (Li J. Y.); Zeng YP (Zeng Y. P.); Li JM (Li J. M.) 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/04/11 4H-SiC  homoepitaxial layers  surface morphological defect  optical microscopy  SILICON-CARBIDE  DISLOCATIONS  FILMS