机构

• 新疆理化技术研究所 [8]
• 国家天文台 [1]

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• OAI收割 [9]

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• 期刊论文 [9]

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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Characterization of a BSI sCMOS for soft X-ray imaging spectroscopy 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2019, 卷号: 14, 页码: 10 作者:  Wang, W. X.;  Ling, Z. X.;  Zhang, C.;  Jia, Z. Q.;  Wang, X. Y.   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2020/03/10 Imaging spectroscopy  Solid state detectors  X-ray detectors  X-ray detectors and telescopes   Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文  OAI收割 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]   |  收藏  |  浏览/下载：129/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   Total ionizing dose effects in pinned photodiode complementary metal-oxide-semiconductor transistor active pixel sensor 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-5 作者:  Ma, LD (Ma, Lin-Dong)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ];  Zhang, X (Zhang, Xiang)[ 1,2,3 ]   |  收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2018/11/20 Cmos Active Pixel Sensor  Dark Current  Quantum Efficiency   Analysis of proton and gamma-ray radiation effects on CMOS active pixel sensors 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 11, 页码: 1-5 作者:  Ma, LD (Ma, Lindong);  Li, YD (Li, Yudong);  Guo, Q (Guo, Qi);  Wen, L (Wen, Lin);  Zhou, D (Zhou, Dong)   |  收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2018/01/08 Complementary Metal-oxide-semiconductor (Cmos) Active Pixel Sensor  Dark Current  Fixed-pattern Noise  Quantum Efficiency   Total ionizing dose radiation effects in foue-transistor complementary metal oxide semiconductor image sensors 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 2 作者:  Wang, F (Wang Fan);  Li, YD (Li Yu-Dong);  Guo, Q (Guo Qi);  Wang, B (Wang Bo);  Zhang, XY (Zhang Xing-Yao) 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2016/12/13 complementary metal oxide semiconductor image sensor  total ionizing dose radiation effect  pinned photodiode  full well chargecapacity   Dark signal degradation in proton-irradiated complementary metal oxide semiconductor active pixel sensor 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 8, 页码: 193-199 作者:  Wang, B (Wang Bo);  Li, YD (Li Yu-Dong);  Guo, Q (Guo Qi);  Liu, CJ (Liu Chang-Ju);  Wen, L (Wen Lin)   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2018/01/26 Complementary Metal Oxide Semiconductor Active Pixel Sensor  Dark Signal  Proton Radiation  Displacement Effect   Research on dark signal degradation in Co-60 gamma-ray-irradiated CMOS active pixel sensor 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2014, 卷号: 63, 期号: 5 作者:  Wang Bo;  Li Yu-Dong;  Guo Qi;  Liu Chang-Ju;  Wen Lin 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2014/11/11 CMOS APS  dark signal  Co-60 gamma-rays  damage mechanism   60Co-γ射线辐照CMOS有源像素传感器诱发暗信号退化的机理研究 期刊论文  OAI收割 物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 5, 页码: 313-319 作者:  汪波;  李豫东;  郭旗;  刘昌举;  文林 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2014/11/11 CMOS有源像素传感器  暗信号  60 Co-γ射线  损伤机理  CMOS APS  dark signal  60 Coγ-rays  damage mechanism   CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统 期刊论文  OAI收割 光学精密工程, 2013, 卷号: 21, 期号: 11, 页码: 2778-2784 作者:  李豫东;  汪波;  郭旗;  玛丽娅;  任建伟 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/11/11 辐射效应  抗辐射性能