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机构
半导体研究所 [2]
采集方式
iSwitch采集 [1]
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2002 [2]
学科主题
半导体材料 [1]
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浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
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Gdxsi grown with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique
期刊论文
iSwitch采集
Journal of crystal growth, 2002, 卷号: 242, 期号: 3-4, 页码: 389-394
作者:
Zhou, JP
;
Chen, NF
;
Zhang, FQ
;
Song, SL
;
Chai, CL
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/05/12
Auger electron spectroscopy
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
Ion beam epitaxy
Semiconducting gadolinium silicide
GdxSi grown with mass-analyzed low energy dual ion beam epitaxy technique
期刊论文
OAI收割
journal of crystal growth, 2002, 卷号: 242, 期号: 3-4, 页码: 389-394
Zhou JP
;
Chen NF
;
Zhang FQ
;
Song SL
;
Chai CL
;
Yang SY
;
Liu ZK
;
Lin LY
收藏
  |  
浏览/下载:54/0
  |  
提交时间:2010/08/12
Auger electron spectroscopy
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
ion beam epitaxy
semiconducting gadolinium silicide
SEMICONDUCTING SILICIDES
MAGNETIC SEMICONDUCTORS
TRANSITION
INSULATOR
SILICON
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