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机构
西安光学精密机械研究... [3]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
专利 [3]
发表日期
2008 [1]
2004 [2]
学科主题
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共3条,第1-3条
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半導体レーザ素子の特性測定装置および方法
专利
OAI收割
专利号: JP2008182046A, 申请日期: 2008-08-07, 公开日期: 2008-08-07
作者:
伊藤 嘉之
;
小野 高志
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提交时间:2019/12/31
点状光源取付け装置
专利
OAI收割
专利号: JP2004207410A, 申请日期: 2004-07-22, 公开日期: 2004-07-22
作者:
山嵜 正隆
;
佐野 雅昭
;
伊藤 正弥
;
北村 嘉朗
;
橋本 義之
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提交时间:2019/12/31
半導体レーザー装置の製造方法および半導体レーザー装置の製造装置
专利
OAI收割
专利号: JP3538602B2, 申请日期: 2004-03-26, 公开日期: 2004-06-14
作者:
玉石 正幸
;
香西 博
;
伊藤 嘉之
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提交时间:2019/12/24